JEM-F200F场发射透射电子显微镜不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析；各种材料微区化学成分的定性和半定量检测；粉末、纳米粒子形态和粒度测定以及复合材料界面特性的研究。

蔡司Sigma 560热场扫描电镜能够对各种材质的导电和不导电样品、不同尺寸和形状的样品表面微观结构进行高分辨观察。配置能谱和背散射电子衍射仪附件可以实现样品表面微观区域内的成分和织构分析。

JSM-6701F冷场发射扫描电镜能够对各种固体材料的表面形貌和表面结构进行观察和分析，以及对固体材料的元素组成进行定性和定量分析。广泛应用于材料科学、生物医学、地质矿产等领域。