原子力显微镜/ Atomic Force Microscope

仪器型号：Bimension ICON 生产厂家：德国布鲁克

工作原理

原子力显微镜通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度等信息。

主要技术指标及参数

1.测量范围：X,Y方向，1~90微米；Z方向10微米。

2.扫描器Z方向实际测试噪声水平：开环控制下，小于0.03 nm （RMS）；XY方向实际测试噪声水平：开环控制下，不高于0.1nm （RMS）。

主要功能及应用领域

主要功能：固体材料表面微观形貌、大小、厚度和粗糙度的表征；固体材料微观摩擦性能；力曲线；粘附力；STM 表征导体、半导体微观形貌结构和I-V曲线并成像。定量纳米力学测试；液体环境中的粒子形貌以及纳米力学测试；纳米刻蚀、纳米操纵。

广泛应用于材料科学领域、聚合物科学领域、半导体工业领域、电化学科学领域、生命科学领域。

送样要求

1.样品尺寸不大于180mm，最大样品高度不高于15mm；

2.仪器最大扫描范围90μm*90μm*10μm；

3.样品上下表面整洁，没有油脂灰尘等污染物；

4.若是纳米颗粒样品，先用一定的分散剂超声分散后，取一滴在云母等很平整的基底上，干燥后测试；如果样品表面有无机盐，先用水等清楚盐分后测试，因为盐分结晶影响形貌的扫描；如果是测试薄膜厚度，预先把薄膜和基底作出一个边界清楚的台阶。