• 新闻公告

分析测试中心关于举办场发射透射电子显微镜（TEM）操作培训通知

       分析测试中心新进的日本电子JEM-F200场发射透射电子显微镜配置冷场发射电子枪，分辨率可达0.1nm。配有双探头能谱探测器（探头面积200 mm2），可在任意样品倾角下实现快速精准的微区成分分析，目前已正常运行半年（仪器参数见附件1）。为提高大型仪器设备开放共享使用效率，全面满足校内广大师生的需求，分析测试中心针对有较大TEM表征需求的师生开展操作培训，具体安排如下：

       一、培训内容

       场发射透射电子显微镜（型号：JEOL JEM-F200）的操作技术。

       二、培训人员

       需要独立上机操作透射电子显微镜的人员（每课题组最多限2人报名）。

       三、培训及认证方式

       集中培训和单独上机操作相结合，经考核通过后，认证为自测用户，可在非工作时间预约测试，且享受测试费用优惠。

       四、报名方式及时间安排

       1.征得导师同意，阅读并签署《学生导师知情书（透射电镜JEM-F200）》（见附件2）；

       2.扫描“JEM-F200透射电镜培训群-202502”二维码加入群聊，群昵称修改为姓名-学院名称-导师姓名；

       3.报名截止时间为2月23日。

       五、培训时间

       根据报名情况另行在微信群中通知，计划2月下旬开始。

       六、联系方式

       曾钰耀 15320037767

                                                                                                   分析测试中心

                                                                                                 2025年2月17日

        附件：分析测试中心关于场发射透射电子显微镜操作培训通知       日本电子JEM-F200电镜功能参数       日本电子JEM-F200电镜功能参数